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                      華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺

      
    華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺
    
      
        
      更新時間：2024-12-12
      
        
      型號：
      
        
      瀏覽量：1582
      
    
      
    
      華測半導體封裝材料高低溫真空探針臺，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應用于真空及常規環境；超高溫度分辨率；特殊客制低溫系統；具有較好穩定性
      
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                      Huace-6S半導體封裝材料高低溫探針臺

      
    Huace-6S半導體封裝材料高低溫探針臺
    
      
        
      更新時間：2024-12-12
      
        
      型號：Huace-6S
      
        
      瀏覽量：1638
      
    
      
    
      半導體封裝材料高低溫探針臺，可用于12英寸以內樣品測試，采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。
      
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                      Huace-8 綜合性分析探針臺

      
    Huace-8 綜合性分析探針臺
    
      
        
      更新時間：2024-12-12
      
        
      型號：
      
        
      瀏覽量：1964
      
    
      
    
      Huace-8 綜合性分析探針臺zd可用于12英寸以內樣品測試；
操作便捷，功能其全，高效精準；
可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
      
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                      Huace-8D 雙面探針臺

      
    Huace-8D 雙面探針臺
    
      
        
      更新時間：2024-12-12
      
        
      型號：
      
        
      瀏覽量：1612
      
    
      
    
      Huace-8D 雙面探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。
      
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