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    • 低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀
      低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀

      更新時(shí)間:2024-12-19

      型號(hào):

      瀏覽量:1563

      低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30S)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH4CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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    • HCLD-III*電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器
      HCLD-III*電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

      更新時(shí)間:2024-12-19

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1639

      *電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一,高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用*的高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器。
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    • HCLD-III產(chǎn)品*漏電起痕測(cè)試儀器
      HCLD-III產(chǎn)品*漏電起痕測(cè)試儀器

      更新時(shí)間:2024-06-05

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1606

      產(chǎn)品*漏電起痕測(cè)試儀器HCLD-III采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用*的高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器an全。
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    • HCLD-III產(chǎn)品*電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
      HCLD-III產(chǎn)品*電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

      更新時(shí)間:2024-06-05

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1660

      產(chǎn)品*電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一,高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用*的高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器an全。
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    • HCLD-III產(chǎn)品*操作簡(jiǎn)單漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器
      HCLD-III產(chǎn)品*操作簡(jiǎn)單漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

      更新時(shí)間:2023-08-29

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1639

      產(chǎn)品*操作簡(jiǎn)單漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一,高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器。
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    • HCLD-III可靠漏電起痕試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器
      HCLD-III可靠漏電起痕試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器

      更新時(shí)間:2024-06-05

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1690

      可靠漏電起痕試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一,高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器an全。
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    • HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀供應(yīng)測(cè)試儀器
      HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀供應(yīng)測(cè)試儀器

      更新時(shí)間:2024-06-05

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1564

      漏電起痕試驗(yàn)儀供應(yīng)測(cè)試儀器優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器HCLD-III采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器an全。
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    • HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀  華測(cè)儀器
      HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀 華測(cè)儀器

      更新時(shí)間:2024-06-05

      型號(hào):HCLD-III

      瀏覽量:1628

      漏電起痕試驗(yàn)儀 華測(cè)儀器HCLD-III采用控制系統(tǒng)精度高,擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理,采用高壓真空切斷技術(shù),使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷,使數(shù)據(jù)采集精確,同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置,使儀器an全。
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