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    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

    簡要描述:MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。

    • 產(chǎn)品型號:
    • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 更新時間:2024-12-08
    • 訪  問  量:2465

    詳細(xì)介紹

    品牌HUACE/北京華測產(chǎn)地類別國產(chǎn)
    應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子/電池,電氣,綜合

          MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀


    升溫迅速高溫介電溫譜儀組成部分

    它由硬件設(shè)備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。它為樣品提供一個高溫環(huán)境;高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺;阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后,再通過測量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起,形成一套由實驗方案設(shè)計到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的測量系統(tǒng)。

          二、升溫迅速高溫介電溫譜儀特點

      可以實現(xiàn)常溫、高溫、低頻條件下測量塊體樣品的介電;

      可以測量阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D等物理量;

      可以直接測量介電常數(shù)和損耗,阻抗譜Cole-Cole圖;

      集成一體化設(shè)計,觸摸屏控制和顯示,具有易用性;

      電動升降平臺,彈簧電極系統(tǒng),操作簡單,使用方便;

      系統(tǒng)自帶溫度功能,讓測量溫度盡可能與樣品實際溫度保持一致;

      系統(tǒng)采用PID模糊算法,具有控溫、超溫保護、一鍵自整定、故障診斷功能;

    高溫條件下模擬導(dǎo)線,可有效增加測試的頻率帶寬,減小電爐絲的交流干擾

    三、技術(shù)指標(biāo)

    溫度范圍:室溫-800℃,(反射爐加溫)配水冷機);

    控溫精度:±0.5℃

    測量精度:±0.25℃;

    升溫斜率:1-800℃/min(*可10秒達800度);

    降溫斜率:1-200℃/min(可自調(diào)整);

    頻率范圍:20Hz-1MHz;

    測量精度:0.05%;

    樣品規(guī)格:直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi);

    電極材料:鉑金;

    測量方式:2線-4線測量方式;

    供電:220V±10%,50Hz;

    工作環(huán)境:0℃-55℃;

    存儲條件:-40℃-70℃;

    尺寸:750mmX660mm×360mm;

    重量:25kg

    四、產(chǎn)品優(yōu)勢

    華測公司為針對新材料電檢測儀器全系列廠家,試驗效率高。

    可實現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。

    可實現(xiàn)小于±0.5℃溫度測量誤差(限反射爐),jing度控制在±0.25℃以內(nèi)。

    五、使用范圍

    可測量陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體等塊狀材料高溫介電特性,可同時測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測量數(shù)據(jù)與圖形。



    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀





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