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    華測高溫四探針測試儀器

    簡要描述:華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表。

    • 產品型號:HGTZ-800
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2023-08-09
    • 訪  問  量:1878

    詳細介紹

    品牌HUACE/北京華測應用領域綜合

    一、產品簡介

     華測儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

     華測儀器——高溫四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提,也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途。

     HGTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流、溫度、時間等設置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。


    二、產品特點

    高速加熱與冷卻方式

    高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統,增設氣體冷卻裝置,可實現快速冷卻。

    溫度控制

    過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。

    不同環境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

    可用真空、氣氛環境、低溫(高純度惰性氣體,靜態或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

    三、功能特點

    1. 多功能真空加熱爐,一體爐膛設計、可實現、高溫、真空、氣氛環境下進行測試

    2. 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度;

    3. 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率;

    4. 可實現常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測量功能;

    5. 溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度準;

    6. 儀器可自動計算試樣的電阻率pV;

    7. 10寸觸摸屏設計,一體化設計機械結構,穩定、可靠;

    8. 程控電子升壓技術,紋波低、TVS防護系統,保證儀器an全性;

    9. 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

    10. Ihuace pro控制分析軟件。

    四、軟件功能

    HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開發,符合高分子材料的各項測試需求,具備穩定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復,兼容,XP、win7、win10系統。

    多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;

    即時監控:系統測試狀態即時瀏覽,無須等待;

    圖例管理:通過軟件中的狀態圖示,立即對狀態說明,了解測試狀態;

    使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;

    故障狀態:軟件具有設備的故障報警功能。

    五、產品結構

    整體為桌面型設計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結構,滿足實驗室無灰塵排放的要求。

    內置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設定加熱曲線,并實現和其 他測試設備的集成控

    定點控溫模式下,可以將樣品10s內加熱到1000攝氏度。

    控溫加熱下,可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。

    在1000度下可以連續工作時間不低于1小時。

    采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。

    樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。

    配備真空泵,水冷設備,配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。

    溫度均勻區:60mm*100mm。

    六、試驗

    七、產品應用

    八、技術指標

    溫度范圍

    室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機)

    控溫精度

    ±0.5℃

    測量精度

    ±0.25℃

    升溫斜率

    800℃/min(可10秒達800度)

    降溫斜率

    1-200℃/min(可自調整)

    測量精度

    0.5%

    樣品規格

    直徑:20mm以內;厚度:5mm以內

    電極材料

    鉑金

    測量方式

    2線-4線測量方式

    供電

    220V±10%,50Hz

    工作環境

    0℃-55℃

    存儲條件

    -40℃-70℃

    尺寸

    750mmX660mmX360mm

    重量

    25kg




    華測高溫四探針測試儀器

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