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    • HCP650-PM華測(cè)半導(dǎo)體材料封裝高低溫冷熱臺(tái)
      HCP650-PM華測(cè)半導(dǎo)體材料封裝高低溫冷熱臺(tái)

      更新時(shí)間:2025-04-03

      型號(hào):HCP650-PM

      瀏覽量:4736

      華測(cè)半導(dǎo)體材料封裝高低溫冷熱臺(tái) 防止高溫氧化負(fù)溫結(jié)霜,高低溫冷熱臺(tái)是一款溫度范圍-190C~600C的溫控探針臺(tái)。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證,即使在極低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn),又可以防止樣品發(fā)生氧化。
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    • HC9023絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)測(cè)試設(shè)備/自主研發(fā)
      HC9023絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)測(cè)試設(shè)備/自主研發(fā)

      更新時(shí)間:2024-12-12

      型號(hào):HC9023

      瀏覽量:1162

      絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)測(cè)試設(shè)備/自主研發(fā)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。利用特殊的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
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    • Huace-6 中端探針臺(tái)
      Huace-6 中端探針臺(tái)

      更新時(shí)間:2024-12-12

      型號(hào):

      瀏覽量:2047

      Huace-6 中端探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng); 可升級(jí)做射頻,大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
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    • Huace-4S小型探針臺(tái)
      Huace-4S小型探針臺(tái)

      更新時(shí)間:2024-12-12

      型號(hào):

      瀏覽量:1891

      Huace-4S小型探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試; 可滿足I-V/C-V,PIV測(cè)試,光電測(cè)試等。
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    • Huace-4簡(jiǎn)易探針臺(tái)
      Huace-4簡(jiǎn)易探針臺(tái)

      更新時(shí)間:2024-12-12

      型號(hào):Huace-4

      瀏覽量:1877

      Huace-4系列簡(jiǎn)易探針臺(tái)可滿足I-V/C-V,PIV測(cè)試,光電測(cè)試等; 外形輕盈,操作方便,價(jià)格實(shí)惠;
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    • 華測(cè)測(cè)試儀器  HCMP手動(dòng)探針臺(tái)
      華測(cè)測(cè)試儀器 HCMP手動(dòng)探針臺(tái)

      更新時(shí)間:2024-12-12

      型號(hào):

      瀏覽量:3606

      華測(cè)測(cè)試儀器 HCMP手動(dòng)探針臺(tái)是一款專門用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái),主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)表征和測(cè)量,還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估,是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料常用工具,廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。
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    • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀與MM探針臺(tái)/系統(tǒng)集成
      半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀與MM探針臺(tái)/系統(tǒng)集成

      更新時(shí)間:2023-08-28

      型號(hào):

      瀏覽量:3920

      半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀與MM探針臺(tái)/系統(tǒng)集成支持二極管、三極管、MOS管等半導(dǎo)體器件以及材料的直流電流-電壓(I-V)測(cè)量,準(zhǔn)靜態(tài)和中頻電容-電壓(C-V)測(cè)量,時(shí)域測(cè)量等。
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