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鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測(cè)試儀高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：HCDH-300

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PLC+觸屏低壓漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器，（耐電痕化指數(shù)儀）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)定高度滴下規(guī)定液滴體積的污染液，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料在電場(chǎng)和污染液介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)和耐電痕指數(shù)。
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HCLD-3產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

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產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過(guò)程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過(guò)壓過(guò)流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCLD-3產(chǎn)品*漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

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產(chǎn)品*漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過(guò)程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過(guò)壓過(guò)流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCLD-III固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)，測(cè)試儀器HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。
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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

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電氣絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀，HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過(guò)耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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