半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統的場景應用

半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統的場景應用

高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下。在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個關鍵測量手段。

關于環氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）高低溫測試技術，已證明此測試方式是有效的，同時加速國產化IGBT、MOSFET等功率器件的研發。

應用場景：

l 電子元器件：在電子產品中，電容器、電阻器、半導體器件等需要在不同溫度下進行試驗，以評估其性能和可靠性。例如，鋰電池和太陽能電池在高低溫環境下的表現直接影響其應用效果，因此需要進行高低溫試驗；

l 新能源材料：對于新能源材料如鋰電池和太陽能電池，高低溫試驗尤為重要。這些材料在惡劣溫度下的性能表現直接關系到其實際應用效果和壽命；

l 汽車零部件：汽車零部件需要在不同的氣候條件下進行試驗，以評估其耐用性和可靠性。車輛在不同氣候條件下會遇到各種惡劣溫度，因此汽車零部件的高低溫試驗是確保其性能穩定的關鍵；

l 半導體材料：半導體材料的電阻率測試在高低溫條件下進行，可以用于測量硅（Si）、鍺（Ge）、砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb）等材料的電阻率。這種測試方法廣泛應用于半導體材料的研發和生產過程中。