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    高溫鐵電材料測試儀的主要用途及介紹

    更新時間:2019-05-27      點擊次數(shù):1764

    高溫鐵電材料測試儀用途:

     1、高溫電壓提高至:0-20KV

     2、高溫頻率提高至:0-15KHZ

     3.計算機自動控制直接讀出數(shù)據(jù),測試準(zhǔn)確

     4. 配置高壓信號發(fā)生器,可測量陶瓷材料的鐵電。

     5.不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù),還可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞、鐵電保持的測試,電阻測量,漏電流測量。

     

    產(chǎn)品介紹

    高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電測量,。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機接口部分、微機和應(yīng)用軟件等部分組成。

    本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和,并且能實現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。。儀器采用一體化設(shè)計,實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。

    鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。

     

     

    產(chǎn)品特點

    • 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)
    • 鐵電疲勞測量
    • 鐵電保持測量
    • 電阻測量
    • 漏電流測量
    • 三維移動平臺

     

     

    軟件功能

    HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性與性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),。兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。

    友善的使用界面

    多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面;

    即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無需等待;

    圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);

    使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

    故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報警功能。

     

     

    硬件支持

    • 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
    • 集成打印機接口,大可擴充8USB接口
    • 支持16G內(nèi)存,60G固體硬盤,讓系統(tǒng)運行流暢。

     

     

    應(yīng)用領(lǐng)域

    • 鐵電材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流等特性。
    • 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)。
    • 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。

     

     

    技術(shù)參數(shù)

    1、電壓范圍:±30V(可擴展至±4KV)

    2、輸出電流峰值:±1A

    3、大負(fù)荷電容:1μF

    4、動態(tài)電滯回線測試頻率:0.001Hx~100kHz

    5、鐵電材料漏電流的測試:10pA~100mA

    6、小脈沖寬度:25ns

    7、上升時間:7ns

    8、極化測試到:10fC

    9、塊體材料樣品盒可進行室溫~1200℃電滯回線測定

     

     

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